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真空高低溫探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-29
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真空光電探針臺(tái) 主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1782微型真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2025-02-18產(chǎn)品型號(hào)：鄭科探瀏覽量：1838真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T-RL瀏覽量：1705測(cè)試夾具要求：可實(shí)現(xiàn)XYZ移動(dòng)； 高低溫探針臺(tái)的詳細(xì)介紹測(cè)試腔：同時(shí)滿(mǎn)足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測(cè)試； 測(cè)試樣品數(shù)：同時(shí)測(cè)試8個(gè)樣品，可進(jìn)行頻率-阻抗測(cè)試、插指電極和場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試；
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T-RL瀏覽量：1761
